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RoHS檢測(cè)儀的分析原理：
ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢悾ㄩL色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡單。
波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ，λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測(cè)元素的特征信息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：Q=kE
式中，K為入射射線的光子能量;Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量;k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
RoHS檢測(cè)儀目前市場上常見的類型是X射線熒光分析儀，又分為能量色散型和波長色散型，能量色散型因其技術(shù)原理及結(jié)構(gòu)比波長色散型簡單，現(xiàn)市場上比較常見，其技術(shù)原理：
特征X射線 放射性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內(nèi)層電子。當(dāng)外層電子補(bǔ)充內(nèi)層電子時(shí)，會(huì)放射該原子所固有能量的X射線-特征X射線。
元素含量與特征X射線強(qiáng)度的關(guān)系。
不同元素特征X射線能量各不相同，依此進(jìn)行定性分析;再根據(jù)特征X射線強(qiáng)度大小，可進(jìn)行定量分析。
可用函數(shù)關(guān)系式表示為：C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
式中：Kn(n=1,2,3…)表示第n號(hào)元素的待定系數(shù)，In(n=1,2,3…)表示第n號(hào)元素釋放的特征X射線強(qiáng)度。由此可知只要通過標(biāo)定確定系數(shù)Kn之后便可進(jìn)行物質(zhì)中元素的定量分析了。
RoHS檢測(cè)儀優(yōu)點(diǎn)
1.分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
2.非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
3.X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著，波長變化用于化學(xué)位的測(cè)定。
4.X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
5.分析精密度高。制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
RoHS檢測(cè)儀缺點(diǎn)
1.難于作分析，故定量分析需要標(biāo)樣。
2.對(duì)輕元素的靈敏度要低一些。容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
RoHS檢測(cè)儀價(jià)格相對(duì)其他一些分析儀器較高，所以很多客戶選擇租賃RoHS檢測(cè)儀，如果您想了解RoHS檢測(cè)儀租賃的價(jià)格，咨詢!
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