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維修 AMPTEK硅漂移探測(cè)器FAST SDD將硅片制造引入內(nèi)部，并改進(jìn)了工藝。其結(jié)果是探測(cè)器具有更低的噪聲、更低的泄漏電流、更好的電荷收集以及探測(cè)器之間的均勻性。這使其成為性能更好的硅漂移探測(cè)器。
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維修島津EDX-7000/8000--SDD檢測(cè)器 SDD探測(cè)器廣泛的應(yīng)用于XRF分析儀器制備，科學(xué)研究以及宇宙探索等諸多領(lǐng)域
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AMETEK FAST SDD 檢測(cè)器 Amptek推出全新SDD探測(cè)器，針對(duì)掃描電鏡能譜儀客戶應(yīng)用（EDS SEM）利用全新技術(shù)“C”系列X射線窗口(Si3N4)，能夠?qū)Φ湍芰繀^(qū)域元素快速響應(yīng)，新Amptek SDD™可以很好的測(cè)試元素碳(C)，高效率快速SDD™是EDS光譜儀的方案。
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