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二手日本電子 JSM-7900F 場發(fā)射電鏡JEOL新一代FE-SEM旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時,操作性能簡單化。 該設(shè)備不依賴操作者的技能,始終能夠發(fā)揮其最佳性能。
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二手 日立 S-3400 掃描電鏡 (SEM)擁有新開發(fā)的電光系統(tǒng),具有更多的自動化功能,結(jié)合了自動軸功能,包括自動橫梁設(shè)置、自動同軸軸。還具有3kV時低加速電壓保證10nm分辨率、實時顯示兩幅圖像、實時全屏圖像等特點。高性能用于觀察和分析材料的表面形貌和微結(jié)構(gòu)。
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二手 日立 S-3400N 掃描電鏡 在材料科學(xué)、半導(dǎo)體研發(fā)和工業(yè)檢測領(lǐng)域,高精度微觀分析能力是推動技術(shù)突破的關(guān)鍵。日立 S-3400N 型掃描電子顯微鏡(SEM)憑借其成像性能和多功能分析能力,成為科研機構(gòu)與企業(yè)的核心檢測工具。作為行業(yè)的設(shè)備解決方案供應(yīng)商,推出的日立 S-3400N 租售服務(wù),以靈活的模式、專業(yè)的技術(shù)支持和全周期服務(wù)體系,為客戶提供低成本、高可靠性的微觀分析解決方.
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二手JEOL IT-500HR場發(fā)射電鏡屬于掃描電子顯微鏡,歸為 InTouchScope™系列,憑借高亮度電子槍與優(yōu)化的透鏡系統(tǒng),兼顧高分辨率成像與高效元素分析能力,適配多領(lǐng)域樣品觀測與成分檢測需求。
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二手 日立CD-SEM 掃描電鏡S-9380(臨界尺寸掃描電子顯微鏡)設(shè)備在半導(dǎo)體制造和納米材料研究領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用
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二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡冷場發(fā)射電子源提供1.0 nm超高分辨率成像,0.5-30 kV連續(xù)可調(diào)電壓精準適配各類樣品,配合E×B技術(shù)實現(xiàn)SE/BSE信號自由切換,10mm2能譜儀可快速完成Be到U的全元素分析。
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二手日立 SU-8230 冷場超高分辨掃描電鏡主要功能及應(yīng)用范圍:微區(qū)形貌、微區(qū)成分分析??梢杂^察和檢測非均相有機、無機材料,及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。
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二手 牛津 EBSD NordlysMax3實時采集、標定和顯示結(jié)果速度高達1580點/秒 AZtec EBSD提供全面采集性能 同時采集分析EBSD和EDS數(shù)據(jù),速度不衰減 同時保持高靈敏度和高靈活性 它將成為您電鏡上的一名新成員
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二手 JSM日本電子--IT100/IT500掃描電鏡應(yīng)用于無機材料、高分子材料、復(fù)合材料、納米材料、半導(dǎo)體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結(jié)構(gòu)觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質(zhì)分析 ? 微區(qū)成份分析。
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Hitachi 二手SU5000熱場式場發(fā)射掃描電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品(-200mmφ,-80mmH)。使用無場光學(xué)元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進行成像,最多可同時提供4個信號,3D MultiFinder工具,使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn),影像依然保持居中和聚焦。
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