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二手 日立 SU8020 高分辨冷場(chǎng)發(fā)射電鏡具有的功能，適用于各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、 背散射電子像觀察及圖像處理。低電壓下通過(guò)在納米尺度上觀察生物樣品如組織、 細(xì)胞、 微生物以及生物大分子等，獲得忠實(shí)原貌的立體感的樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能X射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、 半定量分析，具有形貌、 化學(xué)組分綜合分析能力。
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SU-8010 日立 二手冷場(chǎng)發(fā)射電鏡二次電子像、反射電子像進(jìn)行觀察及圖像處理。可對(duì)金屬、陶瓷、巖石礦物、生物等樣品及各種固體材料進(jìn)行觀察和分析研究。電鏡配有高性能X射線能量色散譜儀，簡(jiǎn)稱能譜儀（EDS），能在不損壞樣品的同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)、線、面元素的定性、定量分析。具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。
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二手 日立 S-4800冷場(chǎng)發(fā)射電鏡觀察和檢測(cè)體相及納米結(jié)構(gòu)的固態(tài)無(wú)機(jī)材料（非磁性）等表面形貌和組成
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二手 日立 S-4700 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)、無(wú)機(jī)材料，及這些材料在納米、微米級(jí)樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。能譜附件可對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。
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二手 日立 SU-8010 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡真空系統(tǒng)采用分子泵和離子泵，抽真空速度快，設(shè)備的真空度高達(dá)10-8Torr。該設(shè)備在高倍模式下放大倍數(shù)100X～300,000 X，在低倍模式下放大倍數(shù)20X～2000；二次電子像的分辨率在加速電壓15KV時(shí)達(dá)到1.0nm，在加速電壓1KV時(shí)達(dá)到10 nm；最大的樣品尺寸是10mm。
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二手 日本電子 場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX:場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征.
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二手 日本電子 JSM-7610F plus場(chǎng)發(fā)射電鏡 ?是一種優(yōu)良的電子顯微鏡，其核心原理基于場(chǎng)發(fā)射電子源和電子光學(xué)系統(tǒng)。場(chǎng)發(fā)射電鏡利用強(qiáng)電場(chǎng)作用，使得電子通過(guò)量子隧道效應(yīng)逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，從而實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。
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二手FIB+雙束FIB+場(chǎng)發(fā)射電鏡在高科技領(lǐng)域，掃描電鏡（SEM）是揭示材料微觀世界的重要工具。美國(guó)FEI公司和賽默飛（Thermo Fisher Scientific）作為電鏡技術(shù)的企業(yè)，其產(chǎn)品在全球范圍內(nèi)被廣泛使用。淮安富匯電子有限公司，作為專(zhuān)業(yè)的第三方供應(yīng)商，現(xiàn)提供現(xiàn)貨供應(yīng)的美國(guó)FEI/賽默飛掃描電鏡。
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二手SEM+EDX場(chǎng)發(fā)射電鏡:超高分辨率：場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，最大可放大100萬(wàn)倍，提供超高清晰度的圖像。多功能探頭：配備SE（二次電子）、BSE（背散射）、EDS（能譜）和STEM（掃描透射）探頭，能夠?qū)崿F(xiàn)表面形貌觀察和成分分析。
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sigma500 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡是蔡司公司推出的高性能設(shè)備，它采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過(guò)0.8nm，能提供優(yōu)秀分辨率和分析性能的科研平臺(tái)。這款設(shè)備專(zhuān)注于EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)，可以獲取分析性能，而且有多種探測(cè)器選擇，可以精準(zhǔn)匹配您的應(yīng)用程序，獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)等多種圖像信息
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