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結構分析場發(fā)射掃描電鏡/ ULTRA系列掃描電鏡儀器簡介： 在SUPRA™場發(fā)射掃描電子顯微鏡基礎上發(fā)展起來的ULTRA 場發(fā)射掃描電子顯微鏡是用于納米結構分析的電子束成像儀器中的*，它接收效率高、可以超高分辨率成像。開發(fā)的能量選擇式背散射電子探測器（EsB）和角度選擇式背散射電子探測器（AsB）則代表了著名的GEMINI®技術的發(fā)展。
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蔡司MERLIN系列場發(fā)射掃描電鏡------從成像到全套實驗室應用：亞納米級分析能力ZEISS的MERLIN Compact場發(fā)射掃描電鏡全部采用新一代鏡筒（GEMINI）設計，具有優(yōu)良的高、低加速電壓性能；創(chuàng)新的InlensDuo探測器設計是目前世界上真正的內置鏡筒電子束光路上的探測器，其具有Z佳的靈敏度和Z高的接收效率。
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