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二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡（SEM）是在各種科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強大工具。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，SEMs使用電子而不是光來產(chǎn)生圖像。在SEM中，將聚焦的電子束掃描過樣品表面，電子與樣品之間的相互作用產(chǎn)生各種信號，被檢測到并轉(zhuǎn)換成圖像。初級電子束對表面進(jìn)行高精度掃描，以便對樣品的地形和形態(tài)進(jìn)行詳細(xì)檢查。SEM的主要優(yōu)點之一是能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率成像。
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二手蔡司場發(fā)射電鏡：具有出色的探測效率，能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，*高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時都具備靈活性，為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。
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二手蔡司冷場電鏡，二手熱場場發(fā)射電鏡SUPRA 40是一款高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過程控制，納米技術(shù)等。
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二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡：掃描電鏡（SEM）是利用電子束掃描樣品表面，產(chǎn)生二次電子等信號，通過檢測這些信號來獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優(yōu)點是分辨率高，可觀察到納米級別的細(xì)節(jié)，景深大，能清晰呈現(xiàn)三維形貌，可同時進(jìn)行成分分析。
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二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強大的微觀分析工具，能夠?qū)崿F(xiàn)對樣品表面形貌的高分辨率觀察，為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個領(lǐng)域的研究提供了強大的技術(shù)支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數(shù)范圍，能夠滿足不同研究領(lǐng)域的精細(xì)觀察需求。
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二手蔡司場發(fā)射電鏡，蔡司SUPRA 40VP場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息
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二手蔡司電鏡 SEM+EDX+EBSD SUPRA 40是一款高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過程控制，納米技術(shù)等。
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二手電鏡sem+edx掃描電鏡分辨率：高真空二次電子像小于3.0nm（30KV） 掃描電鏡放大倍數(shù)：5×～1000000×，連續(xù)可調(diào) 能譜儀分辨率：MnKα峰的半高寬優(yōu)于127eV； 能譜儀元素測試范圍：Be4— Pu94
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二手 JSM-IT300經(jīng)過改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質(zhì)量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進(jìn)行高通量的直觀操作。
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